采用由四探針雙電測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱結(jié)合配置的高溫測(cè)試探針治具，滿(mǎn)足半導(dǎo)體材料因溫度變化對(duì)電阻值變化的測(cè)量要求，通過(guò)先進(jìn)的測(cè)控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
上一篇：分解關(guān)于松裝密度儀的操作過(guò)程
下一篇：雙電法四探針測(cè)試儀
公司地址
電子郵箱
版權(quán)所有 © 2019 寧波瑞柯微智能科技有限公司 浙ICP備2022000105號(hào)-3 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸 GoogleSitemap
咨詢(xún)?cè)诰€客服
服務(wù)熱線
0574-27976124
掃一掃，關(guān)注我們
浙公網(wǎng)安備 33020502001079
